膜厚儀有多種類(lèi)型，它們的測量原理、測量方法和兼容材料各不相同，因此有必要根據應用場(chǎng)合使用一種。下面，我們將介紹六種薄膜測厚儀并解釋每種薄膜測厚儀的特點(diǎn)。

這是一種利用“磁通密度”（即拉動(dòng)磁鐵的力）來(lái)測量涂膜的膜厚計，可在基材為粘附在磁鐵上的金屬的情況下使用。測量針使用含有電磁鐵的線(xiàn)圈，通過(guò)與被測物體接觸時(shí)磁通密度的變化來(lái)計算涂層厚度。

磁通密度值根據涂層表面到涂層下方基材的距離而變化。例如，如果涂層很薄，則基底和探頭之間的距離就會(huì )很短，磁通密度就會(huì )很高。涂層越厚，基體與探頭之間的距離越長(cháng)，磁通密度越低。磁通密度的差異用于測量油漆的厚度。

電磁膜厚計可用于鋼鐵等磁性金屬基體上鍍有鍍層或樹(shù)脂膜等非磁性涂層的產(chǎn)品和設備。不能用于帶有磁性涂層的產(chǎn)品或設備。

過(guò)流式膜厚計采用測針探頭內含有電磁鐵的線(xiàn)圈，但測量原理與電磁式膜厚計不同。渦流膜厚計根據尖端與被測物體接觸時(shí)產(chǎn)生的過(guò)電流的強度來(lái)測量涂膜。由于它使用電流，因此還可以測量不粘附磁鐵的金屬涂層。

過(guò)電流的強度由被測物體表面到基板的距離決定。涂層越薄，過(guò)電流越強，涂層越厚，過(guò)電流越弱。計算涂膜的方法有兩種：利用過(guò)電流的振幅的接觸法和利用過(guò)電流的相位差的非接觸法。

溢流式膜厚儀是測量非磁性金屬絕緣涂層的完美機器。具體來(lái)說(shuō)，它適用于測量在鋁或銅等基材上涂有塑料或樹(shù)脂的產(chǎn)品和設備。但如果涂有導電物質(zhì)就不能使用。

兼具電磁式膜厚計和溢流式膜厚計的測量功能的膜厚計。它既可以測量鋼鐵等磁性材料，也可以測量鋁、銅等非磁性金屬。有使用電磁式和電流式這兩種不同類(lèi)型的測針的類(lèi)型，以及可以用單個(gè)測針處理這兩種類(lèi)型的類(lèi)型。

這是一種利用超聲波的傳播時(shí)間來(lái)測量涂膜的膜厚計，其獨特之處在于它也可以用于非金屬基材。將探頭與被測物體表面接觸，根據探頭發(fā)出的超聲波到達基材并被反射回來(lái)所需的時(shí)間（聲速）得出涂膜的厚度。

超聲波膜厚儀適用于混凝土、木材、玻璃、塑料等基材上的涂層。雖然每種材料的聲速值大致固定，但聲速根據各個(gè)涂層的不同而變化，因此必須進(jìn)行調整以適應測量目標。

這是利用光的干涉效應進(jìn)行測量的膜厚計。可測量電子部件、醫療設備、光學(xué)材料、半導體設備等多種材料的膜厚。

當薄膜受到光照射時(shí)，會(huì )發(fā)生兩次反射：一次在薄膜表面，一次在薄膜背面。當反射光的波長(cháng)匹配時(shí)，光的強度增加；當反射光的波長(cháng)偏離時(shí)，光的強度減弱。光干涉是光的強度根據相位（各反射光的波長(cháng)）而變化的現象。

測量方法是將光纖發(fā)出的光照射到被測物體上，用光纖接收物體反射的光，分析光的干涉圖樣，得出厚度。光譜干涉膜厚儀的另一個(gè)特點(diǎn)是可以處理表面粗糙的薄膜和多層薄膜。

這是一種膜厚計，根據漆膜的厚度和材質(zhì)，吸收一定波長(cháng)的紅外線(xiàn)，從而測量漆膜的厚度。通過(guò)分析被測物體受到紅外線(xiàn)照射時(shí)產(chǎn)生的透射光和反射光的光譜來(lái)計算厚度。

使用紅外膜厚儀的優(yōu)點(diǎn)是受被測物體表面狀況、顏色濁度、振動(dòng)等影響較小，可以快速、非接觸式測量。它不僅用于測量漆膜的厚度，還可以測量塑料薄膜等單層和多層薄膜的厚度。

還有紅外薄膜測厚儀，可以根據波長(cháng)的組合測量丙烯酸、聚氨酯、硅膠等各種材料的厚度。